作為日常的檢測設(shè)備，常常有大量的樣品需要在超微量分光光度計上進行測量。不少的課題組實驗室或者實驗平臺，發(fā)現(xiàn)一臺設(shè)備根本不夠用，其中原因自然有很多。不過，如果你的超微量恰好是NanoPhotometer?，那么恭喜你，起碼在速度方面，你將突破他們。

每一步都是提升

NanoPhotometer?采用獨特的樣品壓縮法原理，在測量過程中，樣品被壓縮成很薄的液膜，使得Implen產(chǎn)品的樣品臺面積比其他采用液柱法的設(shè)備大很多。這樣一來，更加便于上樣操作，可加快上樣速度。試想，如果每個樣品都能夠節(jié)省一點上樣時間，總的效率是不是得到可觀的提升呢？

瀟灑的放下

沉重的懸臂設(shè)計相信是很多用戶對大部分超微量設(shè)備的印象，每次上樣后，需要小心的放下懸臂，個別產(chǎn)品的磁鐵設(shè)計使得懸臂的沉重感雪上加霜。而NanoPhotometer?的樣品蓋設(shè)計非常輕巧，這得益于內(nèi)部沒有光纖等部件的復(fù)雜結(jié)構(gòu)。絲滑的操作，瀟灑的落蓋，不帶有一絲猶豫。軟件可選擇自動測量模式，無需點擊測量鍵，即可自動檢測，一氣呵成的操作非常節(jié)省時間，輕松愜意。

檢測速度是關(guān)鍵

Implen是硬件配置“內(nèi)卷”的頭部。當(dāng)前的機型，無論是4096 CMOS陣列檢測器，還是2.4GHz處理器，都把檢測速度提升到了新的高度，通常樣品只需2秒即可獲得全光譜掃描的結(jié)果。這也是因為在檢測過程中無需形成樣品液柱，樣品直接壓縮為液膜，大幅簡化了測量過程。相對于通常8秒的測量時間，速度可提升300%。

全面洞悉樣品情況

NPOS軟件可在同一界面顯示全部信息，而無需左右翻頁，還可通過窗口縮放聚焦關(guān)鍵信息，這使樣品信息的獲取直觀和高效。樣品質(zhì)量控制功能可通過光譜分析識別污染物和發(fā)現(xiàn)潛在的問題。曲線縮放和全波長數(shù)據(jù)查看功能，可提供更細節(jié)的和更全面的信息。用戶也可以通過導(dǎo)出的報告，查看更多的數(shù)據(jù)。這些完善的軟件功能對提高工作效率起到了助力。

在實際使用中，實驗速度的快慢也決不僅僅取決于設(shè)備的設(shè)計和性能。效率的提升與良好的操作實踐和設(shè)備的使用習(xí)慣息息相關(guān)。NanoPhotometer?邏輯清晰、結(jié)構(gòu)合理的操作界面，使用戶可以很快上手，在長期的使用過程中，形成操作記憶。很多的用戶對Implen的青睞來源于令人印象深刻的NPOS操作系統(tǒng)。功能性與便捷性的良好結(jié)合，使測量過程流暢和高效。

有不少用戶每天使用NanoPhotometer?進行幾百乃至上千的樣本的測量，在結(jié)果可靠的前提下，在速度上更勝一籌。在未來，Implen還將不斷地優(yōu)化軟硬件配置，引領(lǐng)更高的標(biāo)準(zhǔn)，我們將設(shè)計融入NanoPhotometer?的每個細節(jié)，帶來更好的體驗，加速用戶的實驗進程。